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武部 愼一; 藤原 啓司*; 森山 裕丈*
日本原子力学会「施設・環境放射能動態」研究専門委員会報告書, p.1 - 9, 2003/03
収着分配係数(Kd)は測定条件等により大きく影響を受ける特性からデータ間の相互比較が難しく、データの範囲を示すことは可能であるが、その信頼性を評価することは容易ではない。そこで、現在までに得られているデータをもとにバッチ法による測定の基本的な条件について標準的と考えられる条件を検討した。この標準的な測定条件は、最新の知見に基づき、その測定方法の化学的・技術的な合理性について検討したうえで、安定した測定値が得られる推奨条件として標準を規定した。このような標準を作製することにより、データの相互比較が容易になることや、データの信頼性,適用性等の判断が容易になり、より信頼性の高い安全評価に繋がるものと考えられる。ここでは、国内外の研究者等の取り組みや日本原子力学会における標準化の状況等について解説報告する。
武部 愼一; 阿部 昌義
JAERI-Data/Code 2001-006, 96 Pages, 2001/03
JAERI-Data-Code-2001-006.pdf:5.96MB
分配係数は研究所等廃棄物の処分における環境影響評価上極めて重要なパラメータである。原研では、安全評価における分配係数値の利用に関して合理的な値を選定することを目的におもに国内を対象にした文献調査を実施し、得られた分配係数の値や測定方法や測定条件等に関する文献情報データから電磁情報であるデータベースを作成した。本報告は、この電磁情報として作成した「分配係数に関するデータベース」の作成概要について解説を加えるとともに、このデータベースの使用手引としてまとめたものである。
高橋 芳浩*; 今木 俊作*; 大西 一功*; 吉川 正人
Proceedings of IEEE 1995 International Coferece on Microelectronic Test Structures, Vol.8, p.243 - 246, 1995/03
放射線照射や電荷注入による捕獲電荷がMOS構造の酸化膜中において分布する場合、その膜中電荷分布を把握することは電荷捕獲機構や素子特性への影響などを解明する上で重要である。我々は、酸化膜厚をエッチングにより同一基板内で連続的に変化させ、各膜厚に対するMOS構造のミッドギャップ電圧により酸化膜中の電荷分布評価を行う方法を考案した。今回この方法を用いて、MOS構造の酸化膜中電荷分布に及ぼす酸化膜形成後のNH
雰囲気中での高温熱処理の影響について評価した。その結果、熱処理を行っていない酸化膜中では、これまでの報告と同様にSi-SiO
界面付近に正電荷が局在することが確認された。またNH雰囲気中の熱処理を施すと、界面より20nm付近に正電荷および負電荷が発生し、これらの発生量は熱処理時間に依存することがわかった。この現象は酸化膜中への窒素の拡散に起因するものと考えられる。
穴沢 豊; 吉田 芳和; 南 賢太郎
Radioisotopes, 26(4), p.276 - 283, 1977/04
講座、作業環境における放射線モニタリングの第4回として、表面汚染モニタリングについて紹介したものである。表面汚染モニタリングの目的、管理基準、モニタリングの方式および、測定方法について述べてある。
